SJT 10246-1991 微波介质材料 A-陶瓷
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ID： |
F2AEE3A62E614C2797EC822CF56117CD |
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文件大小(MB)： |
0.07 |
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页数： |
5 |
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日期： |
2009-6-11 |
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SJ,中华人民共和国电子工业行业标准,sJ/T 10243.10246-91,微波陶瓷介质材料,1991-05-28发布1991一12-01实施,中华人民共和国机械电子工业部发布,中华人民共和国电子工业行业标准,微波介质材料,A一 陶 瓷 sl/T 10246- 91,Dielectric materials for microwave,A一Ceramic,1 主口内容与适用范围,本 标准 规 定了高介电常数、低损耗、小温度系数微波介质材料的分类、技术要求和试验方,法、检验规则、包装、贮存和运输,本标 准 适 用于“微波介质材料A-陶瓷”(以下简称介质材料),引用标准,GB 7265. 2 固体电介质材料复介电常数的测试方法“开式腔”法,GB 2413 压电陶瓷材料体积密度测量方法,GB 5593 电子元器件结构陶瓷材料,GB 5594. 3 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法,分类,3.飞分类标志如下所示:,A - x 一 x一x,丁下丁工一一--级别,}} 一类型, 一介电常数,‘一一一一一一一一~一-高介电常数、低损耗、小温度系数微波介质陶瓷材料,介质材料的类型、级别、适用频段及用途列于表to,中华人民共和国机械电子工业部1991-05-28批准1991一12-01实施,SJ/T 10246-91,分类,标志,类型,90,适用频段,G H z,介质损耗角正切值,ta ns X 10-,介电常数,e,频率温度系数,T‘,用途,A 411,四钦酸钡陶瓷,Ba 'ti,0,1,(mdAi4ft*),成2. 0,一38^ 40,(2-10)士1 振荡器和,滤波器等,A 412 2 (2.5 (2--10)士3 微波器件,A 421,钦酸桔锡陶瓷,"1'iO,-ZrO,-SnO,I,}mgi41黔0),< 2 .5,36^ 41,(一10^-10)士1振荡器.滤,波器、延迟,A 422 一2 <3.0 (一10-10)士3线等器件,A 811,BaO-R20,-TiO,1 0. 5- 3.0,{测试3,<4. 8,75--80,(一10-10)士I,振荡器.滤,波器等,A 812 2 簇6.0 (一10-10)士3,4 技术要求和试验方法,4.1 基本性能,不 同 类 型的介质材料的基本性能和试验方法列于表2e,4.2 微波介电性能,4.2. 1 要求,不 同 类 型的介质材料的微波性能应符合表1的规定,4.2. 2 试验方法,4. 2-2-1 按GB 7265. 2规定的试验方法测量介质损耗角正切值,4.2. 2. 2 按GB 7265. 2规定的试验方法测量介电常数,4.2.2.3 按附录A 规定的试验方法测量频率温度系数,表 2,{ } 极限值,项目 A 41,B.Ti,O,A 8 1,BaO-R,O,-TiO,试验方法,线膨胀系数1 X 10-`mm/'C,抗弯强度},异4.4X10',镇0.艺0,(7.8--8.8,15 0 - -190,B 2413,蕊0. 08,<5.6~G.6,40 0 - 470,B 2413,<8.5 -9.5 GB 5594.3,600-670 口B 5593第3. 5条,5 检验规则,生产单位应按表1和表2的规定进行例行检验，例行检验每年不得少于一次,生产单位应按表1进行交收检验,检验所用试样的要求、形状、尺寸及数量按有关试验方法的规定。515.25.3,t3 一,SJ/T 10246一91,5. 4 试验中，若所有试祥的指标均符合本标准的规定，则该材料合格试验中即使有一个试样,不符合本标准中任一项要求时，则应以同一批材料制成的两倍数量的试样，对不合格的项目进,行复验，如复验仍不合格.则该材料不合格,6 标志、包装、贮存和运输,产品标志应包括制造厂名、产品名称、分类标志、制造日期等.,产品装人闭封的容器内。容器上应有产品标志,产品存放在清洁、干燥、通风的库房中,可采用任意一种运输方式运输，运输中应防止受潮,产0 八‘U,SJ/T 10246-91,附 录 A,绷率沮度系擞的试验方法,(补 充 件 ),A1 侧试原理,采用反射功率法系统，其示愈图如下所示:,卿月瑞碑,数宇倾率计I I植波器,扫孩,厂一一二r 一一刁,1 温径箱. I,扫顺仪隔离器日衰减器曰定向韧合器同定向藕合器试样测试架,点颇,I L一一一一一一一一一‘一一J I,匕_ _ _ _ _ _ 」,图A1 侧试系统示意图,A2 侧试步.,将 被 测 试样制成回柱形，其直径与高之比为。.3-0.6，按图1所示，将试样测试架置于温,控箱中，使谐振器处于谐振状态，同时从示波器上找出谐振峰。从数宇颐率计上读出谐振频率,f及侧试时的温度TA R沮度从一20℃到“℃，每隔10'C测试一组数据，在每一个测试m度,下，恒沮45min以上。按下式计算预率温度系数r,几一f,f,(T :一Ti),Af,= 几r.气下石人飞1 少,7 ;a i,式中rf 频率沮度系数,10-0/'C ;,人 — 介质谐振器的谐振频率,MHz;,△了 . - 沮 度 变化△T时，所引起的谐振颇率的变化，MHz.,附加说明:,本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出,本标准由上海科学技术大学和机械电子工业部电子标准化研究所负贵起草,本标准主要起草人:胡昂、王玉功……
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